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台式数显测厚仪
产品简介

台式数显测厚仪主要适用于测量5㎜以下的各类型塑料薄膜、箔片、纸张、纸板等薄片片材的厚度。

产品型号:CHY-HS
更新时间:2025-07-11
厂商性质:生产厂家
访问量:11344
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品牌SUMSPRING/三泉中石应用领域医疗卫生,食品/农产品,生物产业,包装/造纸/印刷,制药/生物制药

台式数显测厚仪 


台式数显测厚仪 应用范围
主要适用于测量5㎜以下的各类型塑料薄膜、箔片、纸张、纸板等薄片片材的厚度。
台式数显测厚仪 技术指标
※ 测量范围:0-5㎜
※ 分度值:0.001㎜
※ 测量头直径:10mm
※ 测量面间平行度:<0.035㎜
配 置
标准配置:主机、测量头
选用配置:测量头
关键词
GB/T451.3、GB/T6547、台式测厚仪、机械式测厚仪、片材测厚仪、纸张测厚仪、纸板测厚仪、薄膜测厚仪

测厚仪CHY-HS适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片、硬片等硬质和软质材料厚度准确测量,分辨率达0.1μm,广泛应用于薄膜、铝箔生产企业、质检机构等单位。

台式数显测厚仪

作为专业从事包装检测仪器的行业制造商-济南三泉中石实验仪器有限公司,紧跟国家标准的要求,也参与部分国家药包材标准的制定工作。利用自身在包装检测领域多年的技术积累和行业应用经验,为标准的制定工作提供数据和理论的支持,为国家标准体系的建立添砖加瓦。

 

测试原理

测厚仪采用接触式测试原理,截取一定尺寸试样,测厚仪测量头自动降落于试样之上,依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值。

 

应用范围

产品名称

适用范围

薄膜

用于薄膜、电池隔膜、电容薄膜材料等软质材料厚度测量。

铝箔

对金属箔片等硬质材料厚度测量。

太阳能硅片

接触式测试原理更有效的检测出太阳能硅片上每个点的厚度值。

纸张

通过调节测量头可完整纸张规定的压力和面积,完整各种纸张、纸板材料厚度测试。



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