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台式薄膜测厚仪 薄膜自动厚度测量仪
台式薄膜测厚仪 薄膜自动厚度测量仪
型    号: CHY-U
报    价: 1998
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台式薄膜测厚仪 薄膜自动厚度测量仪,CHY-U台式薄膜测厚仪标准量块标定,方便用户快速标定设备,配备自动进样器,可一键实现全自动多点测量,误差小;仪器在提供测试结果图形统计分析的同时,配备微型打印机,可自动保存并且打印多达100组测试结果。除此之外,仪器还配备RS232接口,方便实验数据和结果的分享。

CHY-U台式薄膜测厚仪 薄膜自动厚度测量仪的详细资料:

台式薄膜测厚仪 薄膜自动厚度测量仪

规格:CHY-U

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在工业中,薄膜是一种使用非常频繁的材料,而且广泛应用于工业中的各个方面,如产品包装、电子生产等。在薄膜中,厚度是否均匀是衡量其质量的重要标准,因为如果薄膜厚度不均,不但会影响到薄膜的拉伸强度、阻隔性等,还会影响到薄膜的后续加工。

对于微电子薄膜、光学薄膜等,薄膜的厚度还直接关系到薄膜材料能否正常工作;另外,大规模集成电路中的薄膜,如果厚度发生变化,会直接影响到电路的性能。除此之外,薄膜材料的力学性能,透光性能,磁性能,热导率,表面结构等都与厚度密不可分。为此,需要对薄膜的厚度测量。

台式薄膜测厚仪 薄膜自动厚度测量仪

CHY-U台式薄膜测厚仪济南三泉中石实验仪器根据GB/T6672 《塑料薄膜和薄片厚度测定-机械测量法》、ISO4593《塑料薄膜和薄板机械扫描测定厚度》等标准研发生产的厚度测量仪器,广泛适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度准确测量。

<strong>台式薄膜测厚仪 薄膜自动厚度测量仪</strong>

CHY-U台式薄膜测厚仪标准量块标定,方便用户快速标定设备配备自动进样器,可一键实现全自动多点测量,误差小;仪器在提供测试结果图形统计分析的同时,配备微型打印机,可自动保存并且打印100组测试结果。除此之外,仪器还配备RS232接口方便实验数据和结果的分享。

技术参数               

测量范围   0-2mm (其他量程可定制)    

分辨率     0.1um

测量速度   10次/min(可调)     

测量压力   17.5±1kPa(薄膜);100±1kPa(纸张)      

接触面积   50mm²(薄膜),200mm²(纸张) 注:薄膜、纸张任选一种  

进样步矩   0 ~ 1300 mm(可调)     

进样速度   0 ~ 120 mm/s(可调)   

机器尺寸   450mm×340mm×390mm (长宽高)     

         23Kg    

工作温度     15℃-50℃

相对湿度     80%,无凝露    

试验环境     无震动,无电磁干扰       

工作电源     220V 50Hz

注:以上价格仅供参考,如需了解详情或详细价格,敬请致电济南三泉中石。


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