数显台式薄膜测厚仪

数显台式薄膜测厚仪CHY-5专业用于测量12.7㎜以下的各类型塑料薄膜、箔片、纸张、纸板等薄片片材的厚度。该仪器满足ISO 4593, ISO 534, ISO 3034, ASTM D374, ASTM D1777, TAPPI T411, JIS K6250, JIS K6783, JIS Z1702等多项标准的规定，是薄膜及纸张生产厂家或质检机构*的物性指标检测仪器。

数显台式薄膜测厚仪   三泉中石品牌

对于塑料薄膜来讲，厚度是影响力学性能、阻隔性的因素之一，需要在质量和成本上找到*化的指标。塑料薄膜的厚度是指一定条件下测得的试样的界面距离。鉴定标准只适用于光面、未经压花的薄膜。厚度测定的目的是为了弄清薄膜厚度的差异，同时，也是进行其它测试时所必需的数据之一。测定时所施加压力的大小具有重要意义，薄膜越软则影响越大，软质薄膜的测定压力应为0.25公斤/厘米2，硬质薄膜为3公斤/厘米2。大于上述测定压力，薄膜会受压缩，另一方面，也应防止将测定器过快触及被测薄膜，否则，使软质薄膜变形。上述情况均会影响测定结果。测试时必须将薄膜平整地放在测定仪的测定位置上，必须定期复核厚度测定器的准确度。

对于纸和纸板来讲，厚度指标是zui基本的检测项目。因纸和纸板具有弹性，其厚度的测量受到压强（即测量头面积、压力）和测试时间的影响，具体影响如下：① 由于纸是柔性体且微观上并不均匀，其厚度随着测量头面积的增大而变大；②印纸具有可压缩性，其厚度随着压力的增大而变小，并趋于一定值；③ 测试时间越长，厚度越小。影响纸和纸板厚度测量结果的三大影响因素为：1、接触压力；2、接触面积；3、测量头下降速度。在测量厚度时国标及ISO标准中均规定了这三个参数。

综上所述，使用台式薄膜测厚仪CHY-5对纸张、纸板或薄膜厚度进行测量时，为取得更精准的测试结果，应尽量控制好测量头的下降速度。该仪器部分技术参数如下：
测量范围                                     0-12.7 ㎜
分度值                                       0.001 ㎜
测量头直径                                   10mm(可选圆头测量头)
测量面间平行度                               ＜0.035 ㎜
测试台面                                     双零级大理石台面
外型尺寸                                     210mm×160mm×260mm（长宽高）
重    量                                     6kg

台式薄膜测厚仪CHY-5的生产厂家济南三泉中石实验仪器有限公司是国内度的包装检测仪器供应商，可为包材生产厂家提供专业的包材物性指标检测方案，更多行业资讯请搜索济南三泉中石实验仪器有限公司或扫描文章底部二维码关注三泉中石公众号获取。