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高精度0.1微米自动薄膜测厚仪

高精度0.1微米自动薄膜测厚仪

简要描述:高精度0.1微米自动薄膜测厚仪,济南三泉中石生产的CHY-U高精度自动薄膜测厚仪适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度的测量。该仪器精度高,误差小,操作简单方便,同时配备微型打印机,方便查看和打印数据结果。

产品型号: CHY-U

所属分类:薄膜测厚仪

更新时间:2020-11-13

厂商性质:生产厂家

详情介绍

高精度自动薄膜测厚仪CHY-U 0.1微米测厚仪厂家直销

规格:CHY-U

关键字:薄膜测厚仪,自动测厚仪,0.1微米测厚仪,高精度测厚仪,厚度测量仪

品牌:sumspring三泉中石

高精度自动薄膜测厚仪CHY-U

在工业生产和生活应用中,薄膜的厚度是一项非常重要的参数,因为它直接关系到薄膜材料能否正常工作,尤其是一些微电子薄膜,光学薄膜,抗氧化薄膜,巨磁电阻薄膜,高温超导薄膜等除此之外,薄膜材料的力学性能,透光性能,磁性能,热导率,表面结构等都与厚度密不可分。                   

济南三泉中石生产的CHY-U高精度自动薄膜测厚仪适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度的测量。该仪器精度高,误差小,操作简单方便,同时配备微型打印机,方便查看和打印数据结果。

技术特征 

1.配备微型打印机,数据实时显示、自动统计、打印,方便快捷地获取测试结果 

2.打印数值及每次测量结果,方便用户分析数据 

3.仪器自动保存100组测试结果,随时查看并打印 

4.标准量块标定,方便用户快速标定设备 

5.配备自动进样器,可一键实现全自动多点测量,误差小 

6.提供测试结果图形统计分析,准确直观地将测试结果展示给用户 

7.配备标准RS232接口,方便系统与电脑的外部连接和数据传输

技术参数               

测量范围 0-2mm (其他量程可定制)               

分辨率 0.1um               

测量速度  10次/min(可调)               

测量压力 17.5±1kPa(薄膜);100±1kPa(纸张)               

接触面积 50mm²(薄膜),200mm²(纸张) 注:薄膜、纸张任选一种               

进样步矩  0 ~ 1300 mm(可调)               

进样速度  0 ~ 120 mm/s(可调)               

机器尺寸 450mm×340mm×390mm (长宽高)               

重    量 23Kg               

工作温度15℃-50℃                    

试验环境无震动,无电磁干扰               

工作电源220V 50Hz

参照标准

GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、

ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、

JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817  



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