产品中心
Product Center
产品简介
product
产品分类| 品牌 | SUMSPRING/三泉中石 | 价格区间 | 面议 |
|---|
包装薄膜主要是起着产品保护作用，商家为了方便运输，往往在产品上包裹上一次薄膜。包装薄膜的厚度不均匀的话就可能对薄膜的物理性能造成影响。为了保证运输包装的可靠性，济南三泉中石实验仪器有限公司研发生产了包装薄膜厚度测量仪。
一个小小的塑料包膜，如果薄膜的整体厚度均匀性差，其中各层树脂的厚度分布也会存在差异。毫无疑问，对涂层厚度的检测将更有利于有效控制薄膜各层的厚度均匀性，但对于多层薄膜若想精确测量每一涂层的厚度，在相应的厚度检测设备上就需要有非常大的投资，并随着薄膜层数的增长而加大，给企业带来较大的经济负担。济南三泉中石实验仪器有限公司的性价比高，价格便宜，是理想的检测设备。
技术参数
测量范围:0-2mm （其他量程可定制
分辨率:0.1um
测量速度:10次/min（可调）
测量压力:17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）
接触面积:50mm2（薄膜），200mm2（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种
进样步矩:0 ～ 1300 mm(可调)
进样速度:0 ～ 120 mm/s(可调)
机器尺寸:450mm×340mm×390mm (长宽高)
重量:23Kg
工作温度:15℃-50℃
相对湿度:zui高80%,无凝露
试验环境:无震动，无电磁干扰
工作电源:220V 50Hz
满足GB/T6672（塑料薄膜与薄片厚度的测定机械测量法）、GB/T451.3(GB/T451.3纸张和纸板厚度测定方法)、GB/T6547（瓦楞纸板的厚度测量准则）、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4 817GB/T 6618-2009《硅片厚度和总厚度变化测试方法》 等各项国家标准要求。
当前位置：
上一个：
返回列表
