薄片厚度测试仪（高精度）

产品概述

薄膜、复合膜、纸张及金属箔片等材料的厚度均匀性，是影响产品加工性能、机械强度和包装质量的重要指标。尤其对于厚度较薄、精度要求较高的材料，普通测厚设备难以满足精细化测量需求，需要采用高分辨率的薄片厚度计进行准确检测。

三泉中石CHY-HS薄片厚度测试仪是一款用于硬质和软质片状材料厚度精确测量的专业测厚仪，适用于塑料薄膜、复合膜、纸张、铝箔、金属箔片及各类硬片等材料，测量范围为0～2mm，分辨率可达0.1μm，可根据不同材料的测试要求选择相应测量压力和接触面积，满足薄膜及纸张等材料的精密厚度检测需求。

高精度测量，适应多种材料检测

CHY-HS薄片厚度测试仪采用高精度测量系统，可对试样厚度进行精确测定。针对不同材料，仪器设置相应的测量条件：薄膜测量压力为17.5±1kPa，纸张测量压力为100±1kPa，接触面积分别为50mm²和200mm²，降低测量条件差异对测试结果的影响。

仪器测量速度为10次/min，可根据实际检测需求调节，适用于薄膜生产企业、铝箔加工企业、纸张生产企业及第三方质检机构的材料质量控制。

智能操作与数据管理

仪器采用彩色液晶触摸屏控制，无需连接电脑即可独立完成测试、结果查询及数据统计。系统可自动保存最多500组测试结果，并显示单次测量值、最大值、最小值及平均值，同时配备微型打印机，方便测试数据输出与记录。

设备可选配自动进样器，实现一键全自动多点测量，减少人工操作带来的误差；配套专业软件还可进行测试结果图形统计分析。仪器支持RS232数据接口及标准量块标定，并具备三级密码权限管理和ISP在线升级功能。数据管理系统支持本地存储、自动统计及不可修改删除格式的数据导出，满足新版GMP对检测数据管理的相关要求。

参照标准与应用领域

CHY-HS薄片厚度测试仪参照GB/T 6672、GB/T 451.3、ASTM D645、ASTM D374、ISO 4593、ISO 534等国内外相关标准设计，可用于塑料薄膜、复合包装材料、纸张、铝箔及其他片状材料的厚度检测。

三泉中石专注于包装材料检测仪器的研发与生产，可根据不同材料特性和检测需求提供相应的测量方案及配置选择，为企业原材料检验、生产过程质量控制和产品研发提供可靠的检测支持。

薄片厚度测试仪（高精度）