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数显薄膜测厚仪
数显薄膜测厚仪
型    号: CHY-U
报    价: 35300
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数显薄膜测厚仪主要用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量误差高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

CHY-U数显薄膜测厚仪的详细资料:

三泉中石

数显薄膜测厚仪  CHY-U

适用于2mm范围内各种硬质和软质材料厚度精确测量。

数显薄膜测厚仪 产品应用

薄膜   塑料复合膜   纸张   片材   金属片

技术特征

★微电脑控制、大液晶显示

★专业高精度传感器,保证了测试误差

★严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制

★测量头自动升降,避免了人为因素造成的系统误差

★手动、自动双重测量模式,更方便客户选择

★配备微型打印机,数据实时显示、自动统计、打印,方便快捷地获取测试结果

★打印zui大值、zui小值、平均值及每次测量结果,方便用户分析数据

★仪器自动保存zui多100组测试结果,随时查看并打印

★标准量块标定,方便用户快速标定设备

★专业电脑测试软件,直观表示测试差异

测试原理

机械接触式测试原理,截取一定尺寸试样,测量头自动降落于试样之上,在一定压力和一定接触面积下测试出试样的厚度值。

技术参数

测量范围:0-2mm(其他量程可定制)

分辨率:0.1um

测量速度:10次/min(可调)

测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张)

接触面积:50mm²(薄膜),200mm²(纸张) 注:薄膜、纸张任选一种

机器尺寸:450mm×340mm×390mm (长宽高)

重量:23Kg

环境要求

环境温度:15-50℃(无震动,无电磁干扰)

相对湿度:zui高80%,无凝露

工作电源:220V      50Hz

    准

GB/T6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTMD1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JISZ1702、BS 3983、BS 4817

配    置

标准配置:主机、标准量块、微型打印机

选用配置:测试软件、通信电缆、测量头、配重砝码、自动进样器

 


更多详情,请咨询济南三泉中石实验仪器有限公司业务部,
:,, :(王海燕)

 


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