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测厚仪 BMH-J3型

发布时间:2010/7/1点击次数:1390

 

    
测厚仪 BMH-J3
 
 
√测厚仪应用范围
主要适用于测定薄膜、薄片等材料的厚度。
√测厚仪技术特征
1.测量范围宽,测量误差高
2.可任意位置置零
3.公英制转换特点
4.数据输出功能
5. 便携式设计,携带更方便
√测厚仪技术参数
1.测量范围:(0-25)mm
2.分辨率:0.001mm 
3.电源:氧化银电池SR44      
4.工作温度:0℃~+40℃       
5.储运温度:-20~+70℃
6.相对湿度:≤80%
√测厚仪关键词
便携式测厚仪、数显测厚仪、手持式测厚仪、薄膜测厚仪、纸张测厚仪、测厚仪 
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